X射線衍射儀（XRD）是用于分析各種問(wèn)題的重要的非破壞性工具之一，從流體到粉末和晶體。從研究到生產(chǎn)和工程，XRD在材料特點(diǎn)分析和質(zhì)量控制中是一個(gè)*的方法。理學(xué)公司與學(xué)術(shù)界用戶、工業(yè)用戶合作開(kāi)發(fā)了一系列衍射儀，提供了技術(shù)先進(jìn)、靈活性強(qiáng)且性價(jià)比高的衍射解決方法。
　　
　　X射線衍射儀是利用衍射原理，測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似。X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，X射線衍射儀廣泛應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。X射線衍射儀（X-RayDiffractometer，XRD）是目前應(yīng)用廣泛的研究晶體結(jié)構(gòu)的裝置。X射線衍射儀可分為X射線單晶衍射儀和X射線多晶衍射儀。
　　
　　X射線衍射儀技術(shù)可為客戶解決的問(wèn)題：
　　
　?。?）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。
　　
　　（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。
　　
　?。?）新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。
　　
　?。?）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。
　　
　?。?）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。